1001 Words

1.EDT: Embedded Deterministic Test
至於SOC另一重要的課題即所謂的測試問題(Design for test)，隨著chip capacity增 加及趨於複雜，使測試成本也跟著提高，一般測試可分Handling(上機台)、Non-Scan(AD/DC時間)、Scan、EDT等四階段，通常第 三階段(Scan-based test)會佔據最大測試時間，為能使這段測試時間極小化，近來也有所謂 Embedded Deterministic Test方式，以壓縮、解壓縮方式使test patterns size大幅縮小，不僅不必再升級測試 機台，也可充份節省測試時間。
2.fuel n.燃料
3.loan n.貸款
4.presidential candidates
5.see-saw n.翹翹板
6.instantiate v.舉例說明
7.pronoun n.代名詞
8.conjunction n.連接詞
9.look up ph.查詢